奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產品。 實的測定功能 使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
◆測定反射率 測定以物鏡聚光φ17～70μm的微小點的反射率。 ◆測定膜厚 活用反射率數據，測定約50nm～約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。 ◆測定物體顏色 根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關數值。 ◆測定透過率 從受臺下部透過φ2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。（選配） ◆測定入射角為45度的反射率 從側面向45度面反射φ2mm的平行光，測定其反射率。（選配） 域的高精度&高速測定
◆實現高速測定 使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定。 ◆*適用于測定細小部件、鏡片的反射率 新設計了可以在φ17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現再現性很高的測定。 ◆測定反射率時，不需要背面防反射處理 將專用物鏡與環形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定*薄0.2mm的反射率*。 ◆可選擇的膜厚測定方法
根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析?？梢愿鶕猛具x擇*佳的測定方法。
*1 選件組件 *2 本社測定條件下的測定 *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。
*4 點徑
閩公網安備 35020602001071號
